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佛(fó)山(shān)市材料(liào)表麵(miàn)結(jié)構檢測,元素分析檢測,X射綫能(néng)譜檢測-國科控股資質(zhì)檢測機構
更(gēng)新時間:2022-08-03
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廠商(shāng)性(xìng)質:生產廠家(jiā)
生(shēng)產(chǎn)地(dì)址:
國(guó)科(kē)控股(gǔ)提(tí)供
佛(fó)山(shān)市材料表(biǎo)麵結(jié)構檢(jiǎn)測(cè),元(yuán)素(sù)分(fēn)析(xī)檢(jiǎn)測,X射綫能(néng)譜檢測(cè)
周主(zhǔ)任(rèn):
佛(fó)山(shān)市(shì)政府和(hé)國(guó)科(kē)控股廣州中科檢測(cè)技術服務(wù)有(yǒu)限公司(sī)建(jiàn)議(yì)企(qǐ)業平(píng)台(tái),為佛山企業(yè)提(tí)供快速優質檢測(cè)服務(wù),公(gōng)司通(tōng)過(guò)了(liǎo)中(zhōng)國國家認證認可(kě)監督(dū)管(guǎn)理(lǐ)委(wěi)員(yuán)會和中國合(hé)格評定(dìng)國(guó)家認可(kě)委員(yuán)會的二(èr)合(hé)一(yī)(cma,cnas)實驗室(shì)認證認(rèn)可,是(shì)的(dí)第(dì)三(sān)方(fāng)檢測機(jī)構。為(wéi)您出具認證(zhèng)報告!日(rì)立S-3400N掃描電(diàn)鏡,德(dé)國(guó)布(bù)魯(lǔ)克Xflash Detector 5010能譜儀,固(gù)體(tǐ)樣品均可,樣品(pǐn)應經(jīng)過真(zhēn)空幹(gān)燥(zào)處(chǔ)理(lǐ),不(bù)含(hán)水(shuǐ)分(fēn)或(huò)其它(tā)易揮發成分。樣品厚(hòu)度不能高於(yú)10mm,樣(yàng)品(pǐn)直(zhí)徑200mm。測試(shì)條件:加速(sù)電壓0.3~30kv,放(fàng)大倍率5~300000倍(bèi),分(fēn)辨率(shuài)SE 3nm@30kv,10nm@3kv;BSE 4nm@30kv。可(kě)以測(cè)量固體(tǐ)樣品,薄膜(mó),微粒的表麵結構(gòu),不(bù)導(dǎo)電的需噴(pēn)金後測定(dìng)。
佛山(shān)市材(cái)料表麵結構(gòu)檢(jiǎn)測(cè),元(yuán)素(sù)分(fēn)析(xī)檢(jiǎn)測(cè),X射綫(xiàn)能譜檢測(cè)-國(guó)科控股(gǔ)資(zī)質檢(jiǎn)測機構(gòu)
掃(sǎo)描電鏡測(cè)試SEM可提供(gōng)表麵結構(gòu)測試,進(jìn)行(háng)樣(yàng)品微觀分析(xī),掃(sǎo)描式顯(xiǎn)微(wēi)鏡可放(fàng)大(dà)到(dào)30萬倍以(yǐ)上,可(kě)測(cè)試項(xiàng)目廣泛。
佛山市(shì)材料表麵(miàn)結(jié)構檢測(cè),元素分析(xī)檢(jiǎn)測(cè),X射綫能譜檢測-國科控(kòng)股(gǔ)資(zī)質檢測機構
X射(shè)綫能譜:入射電子(zǐ)和(hé)樣品進(jìn)行非(fēi)彈性(xìng)碰撞可(kě)產生(shēng)連(lián)續(xù)x光(guāng)和(hé)特(tè)征(zhēng)x光(guāng),前者係入(rù)射電(diàn)子(zǐ)減(jiǎn)速(sù)所(suǒ)放出的(dí)連(lián)續(xù)光(guāng)譜(pǔ),形成背景(jǐng)決(jué)定zui少分析(xī)之(zhī)量,後(hòu)者係特定(dìng)能階間之(zhī)能量差,可藉以分析(xī)成分元(yuán)素。
元素分析:
可以測(cè)試的(dí)金屬元(yuán)素(sù)有(yǒu): 鋰(li),鈹(pí)(be), 鈉(nà)(na),鎂(měi)(mg),鋁(lǚ)(al), 鉀(k),鈣(ca),鈦(ti),釩(v),鉻(cr),錳(mn),鐵(fe),鈷(co),鎳(ni),銅(cu),鋅(xīn)(zn),镓(ga),...
特(tè)別推(tuī)出(chū)紅(hóng)外(FIR),DSC(差(chà)視熱(rè)量(liáng)掃描(miáo)儀),TGA(熱失重(zhòng)分析),TGA-FIR聯用(yòng),DMA動態(tài)力(lì)學分析(xī)儀(yí),塑(sù)料(liào)導熱係(xì)數(shù),塑(sù)料配方(fāng)剖析未知物成分分析,激光(guāng)粒度(dù)儀,TEM(透(tòu)射電鏡),SEM(掃(sǎo)描電(diàn)鏡)的測試。
如果[掃描(miáo)電鏡測試(shì)SEM,X射(shè)綫(xiàn)能(néng)譜測(cè)試,元(yuán)素分(fēn)析(xī)EDS ]描述不夠全(quán),請我司獲取(qǔ)詳(xiáng)細資料(liào),咨詢(xún)!






