國科(kē)控股提(tí)供

掃描電鏡測(cè)試(shì)SEM
，x射(shè)綫(xiàn)能(néng)譜測(cè)試EDS

      周主任：

     廣州中(zhōng)科檢測(cè)技術(shù)服(fú)務(wù)有(yǒu)限(xiàn)公司通(tōng)過(guò)了(liǎo)中(zhōng)國國(guó)家認證(zhèng)認(rèn)可監(jiān)督(dū)管(guǎn)理(lǐ)委員會和中國合格評定國(guó)家認可(kě)委員會(huì)的二(èr)合(hé)一(yī)（cma，cnas）實驗(yàn)室認證認(rèn)可
，是的第(dì)三方(fāng)檢(jiǎn)測機構。為您(nín)出具(jù)認證報告！日立S-3400N掃(sǎo)描電鏡，德(dé)國(guó)布魯(lǔ)克Xflash Detector 5010能(néng)譜儀
，固體樣品(pǐn)均可(kě)
，樣品應(yīng)經過真空幹燥(zào)處理(lǐ)
，不(bù)含(hán)水分或其它易(yì)揮發成分(fēn)。樣品厚度(dù)不能(néng)高於10mm
，樣品直徑(jìng)200mm。測(cè)試(shì)條件：加速(sù)電(diàn)壓0.3~30kv
，放大(dà)倍(bèi)率(shuài)5~300000倍(bèi)
，分辨率(shuài)SE 3nm@30kv，10nm@3kv；BSE 4nm@30kv。可以(yǐ)測(cè)量固體樣品，薄(báo)膜(mó)，微粒的表(biǎo)麵結(jié)構(gòu)
，不(bù)導電(diàn)的(dí)需噴(pēn)金後(hòu)測(cè)定。

佛(fó)山(shān)市(shì)掃描電(diàn)鏡(jìng)快(kuài)速檢測
，SEM現場(cháng)檢測，X射(shè)綫能(néng)譜(pǔ)檢(jiǎn)測-國科(kē)控股(gǔ)資質(zhì)檢(jiǎn)測(cè)機(jī)構(gòu)

掃(sǎo)描(miáo)電鏡(jìng)測試(shì)SEM可提供表麵(miàn)結構(gòu)測(cè)試
，進行樣品微觀分析
，掃描(miáo)式(shì)顯(xiǎn)微鏡(jìng)可(kě)放大到(dào)30萬(wàn)倍(bèi)以上
，可測(cè)試項(xiàng)目廣(guǎng)泛。

佛(fó)山(shān)市掃描(miáo)電(diàn)鏡快(kuài)速檢測
，SEM現(xiàn)場(cháng)檢測，X射(shè)綫(xiàn)能譜檢測-國科控股資(zī)質(zhì)檢測機構(gòu)

X射(shè)綫能譜：入射(shè)電(diàn)子和樣品(pǐn)進(jìn)行(háng)非彈性碰撞可產生(shēng)連續x光和(hé)特(tè)征x光
，前(qián)者(zhě)係入(rù)射電(diàn)子(zǐ)減速所放(fàng)出的(dí)連(lián)續光(guāng)譜(pǔ)
，形成(chéng)背景決定(dìng)zui少分析(xī)之(zhī)量
，後(hòu)者(zhě)係(xì)特定(dìng)能階間之(zhī)能(néng)量(liáng)差(chà)
，可藉(jiè)以分析成(chéng)分元素(sù)。

元素(sù)分析(xī)：
可以測試的金屬元(yuán)素(sù)有： 鋰（li），鈹(pí)（be）， 鈉（na），鎂（mg），鋁（al）， 鉀（k），鈣（ca），鈦（ti），釩（v），鉻（cr），錳（mn），鐵（fe）,鈷（co），鎳(niè)（ni），銅（cu），鋅（zn），镓（ga），...

 特別推出(chū)紅外（F​IR），DSC(差(chà)視熱量掃描儀(yí))，TGA（熱(rè)失(shī)重分析(xī)），TGA-FIR聯用(yòng)，DMA動態力(lì)學(xué)分析(xī)儀(yí)，塑料(liào)導熱係數(shù)，塑(sù)料配(pèi)方(fāng)剖(pōu)析未知物(wù)成(chéng)分分析，激光粒(lì)度儀，TEM（透(tòu)射電(diàn)鏡），SEM（掃描電(diàn)鏡）的測試。

如果(guǒ)[掃描電鏡測試(shì)SEM
，X射綫能譜(pǔ)測(cè)試(shì)
，元素(sù)分(fēn)析EDS ]描述(shù)不(bù)夠(gòu)全
，請我司(sī)獲取(qǔ)詳細(xì)資(zī)料(liào),咨(zī)詢！