XRD分析是(shì)通過(guò)測量材料內原子(zǐ)平麵(miàn)對X射(shè)綫的(dí)衍射，來研究和(hé)量化材料的(dí)結晶性質(zhì)。它不(bù)僅(jǐn)能夠(gòu)確定材(cái)料(liào)的晶體結構(gòu)，相組成及(jí)微觀(guān)結(jié)構變(biàn)化(huà)，還能夠測量(liáng)晶體含量(liáng)，晶格平麵之(zhī)間(jiān)的間距(jù)以及晶(jīng)體(tǐ)的擇優(yōu)生長(cháng)等信息(xī)。XRD分(fēn)析(xī)在材(cái)料科學，化學，物理學，地(dì)質學，製(zhì)藥業，法醫學(xué)以(yǐ)及玻璃(lí)工(gōng)業(yè)等多(duō)個(gè)領域得到(dào)了廣(guǎng)泛應用(yòng)。

XRD分(fēn)析(xī)-中科(kē)檢測(cè)

XRD分析範圍

(1)晶(jīng)體(tǐ)結(jié)構(gòu)‌：通過(guò)分析衍(yǎn)射圖樣來(lái)確(què)定材(cái)料的晶體結(jié)構(gòu)，包括晶(jīng)格常數，晶胞參數(shù)，晶體(tǐ)對(duì)稱性等信息(xī)。

(‌2)晶(jīng)體(tǐ)相(xiāng)組成(chéng)‌：通過分(fēn)析(xī)衍射(shè)圖(tú)樣來確(què)定(dìng)材(cái)料中(zhōng)的晶體(tǐ)相組成(chéng)，即不同(tóng)晶(jīng)體結(jié)構(gòu)的相(xiāng)對含量(liáng)。

(3)‌晶體(tǐ)取向‌：測定(dìng)晶(jīng)體(tǐ)在材料(liào)中的取(qǔ)向(xiàng)信(xìn)息，包括(kuò)晶體(tǐ)的取向度(dù)和(hé)取(qǔ)向(xiàng)分(fēn)布(bù)。

(‌4)晶體(tǐ)缺(quē)陷‌：通(tōng)過(guò)分析(xī)衍射圖樣(yàng)來(lái)研究材料(liào)中(zhōng)的晶(jīng)體缺陷(xiàn)，如晶格畸(jī)變，位(wèi)錯等。

‌(5)晶體(tǐ)尺(chǐ)寸和形態(tài)‌：通過(guò)研(yán)究衍(yǎn)射峰的(dí)形狀和寬(kuān)度來(lái)估(gū)計晶體的尺(chǐ)寸和(hé)形態(tài)。

(6)‌物(wù)相分(fēn)析(xī)‌：用(yòng)於物質的物(wù)相(xiāng)分析(xī)，確(què)定(dìng)材(cái)料的(dí)物相(xiāng)組(zǔ)成和晶體結構。

(‌7)定性(xìng)分析和定量分析(xī)‌：通過XRD圖譜(pǔ)進行物(wù)質的定性(xìng)分析和(hé)定(dìng)量(liáng)分(fēn)析。

(‌8)藥(yào)物晶型分析(xī)‌：用於新藥研發(fā)時的化合(hé)物定性(xìng)分析，確定藥物(wù)的(dí)晶型和(hé)結晶情況。

XRD分析方法(fǎ)和步驟

(1)‌峰的識別(bié)‌：首先，需(xū)要找到圖(tú)譜上(shàng)的(dí)所(suǒ)有峰，並(bìng)確(què)定它們的2θ位(wèi)置(zhì)以及相對強度。

(2)‌相識(shí)別(bié)‌：根(gēn)據(jù)峰的(dí)位(wèi)置，使(shǐ)用標準的XRD數據庫來(lái)匹配相(xiāng)位(wèi)。每(měi)種(zhǒng)晶體(tǐ)結構都(dū)有(yǒu)XRD峰位特(tè)征(zhēng)。

(3)‌定量分(fēn)析‌：如果(guǒ)樣品(pǐn)中有多(duō)種相，可以(yǐ)通過(guò)峰(fēng)的強度(dù)來估(gū)計各相的質量分數。這(zhè)需要(yào)通(tōng)過(guò)軟(ruǎn)件擬合峰(fēng)的形(xíng)狀整(zhěng)合峰麵(miàn)積，一(yī)般假(jiǎ)設(shè)服從瓊(qióng)斯矩陣理論。

(4)‌嵌(qiàn)入分(fēn)析(xī)‌：如(rú)果(guǒ)有非晶物(wù)質，也可(kě)以(yǐ)估計(jì)晶粒度(dù)的大致範(fàn)圍。根據(jù)施萊爾公式粗(cū)略(lüè)擬合(hé)峰(fēng)寬度(dù)。

(5)‌應力分析‌：峰位的細微(wēi)移動反映(yìng)了樣(yàng)品的(dí)應力(lì)狀(zhuàng)態。峰位(wèi)偏移量(liáng)與(yǔ)應力之(zhī)間(jiān)也(yě)有(yǒu)定(dìng)量(liáng)關係。

(6)‌優(yōu)選(xuǎn)取向(xiàng)分析(xī)‌：比較同(tóng)一(yī)相在不同晶麵(miàn)反射(shè)峰的(dí)相對(duì)強度，可(kě)以判斷是否存在優(yōu)選取向(xiàng)。實(shí)際應用中可能需要(yào)更(gēng)復雜(zá)的(dí)擬(nǐ)合，結合樣品的已知(zhī)信息來(lái)綜(zōng)合判斷(duàn)。

XRD分析(xī)-中(zhōng)科檢(jiǎn)測